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可测试设计培训手册目录


一, 可测试设计介绍
二, 测试技术说明:
(一),传统测试技术介绍
1, ICT
2, ATE
(二),边界扫描
1, 边界扫描原理
2, 边界扫描技术应用范围
(三), 各种技术比较
三, 覆盖率说明
(一),覆盖率定义
(二),覆盖率报告
(三),覆盖率的功能
四, 应用边界扫描测试
(一),设计时导入边界扫描技术流程
(二),设计边界扫描链
1, 菊花链
2, 多条
3, 通过电路配置链
4, 设计时如何规划几条链
(三),电路板层设计细节
1, DRAM 测试
2, flash 测试与编程
3, IO 测试
4, 总线测试
5, BIST 测试
(四),覆盖率报告


五,设计技巧与经验
(一),FPGA 注意点
(二),设计链技巧
(三),BSDL 检查
(四),提高覆盖率
六, 练习边扫测试技术
七, 沟通与答疑



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